AFM Examination of the DentinSurface (Our Experience)

České info

AFM vyšetření dentinového povrchu(Naše zkušenosti)

Mikroskopie atomárních sil – AFM (Atomic Force Microscopy) je jednou z technik Mikroskopieskenující (rastrující) sondou, používaných k zobrazování struktury povrchů. Je založena namapování rozložených atomárních sil na povrchu zkoumaného vzorku. AFM poskytuje věrnýtopografický trojrozměrný obraz povrchu s rozlišením až atomárním. Kromě fyziky a chemiepovrchů je metoda použitelná i v biologických oborech. Speciální úprava skeneru AFM umožňujesledovat biologické vzorky v kapalných prostředcích. Tím se lze vyhnout celé řadě artefaktůzpůsobených dehydratací.Je známo, že dentin lidských zubů je excesivně citlivý na odvodnění a vysušení, které jepoužíváno při standardní přípravě vzorků pro vyšetření v SEM (Scanning Electron Microscopy).V této práci popisujeme naše zkušenosti s vyšetřením dentinového povrchu extrahovanýchtřetích molárů s pomocí AFM za vlhkých podmínek.

Klíčová slova:
Mikroskopie atomárních sil (AFM) – dentin – smear layer

Authors: Z. Zapletalová ¹; R. Kubínek ²; M. Vůjtek ²
Authors place of work: I. stomatologická klinika LF UP a FN Olomouc, přednostka doc. MUDr. J. Stejskalová, CSc. 2Katedra experimentální fyziky PřF UP, Olomouc, vedoucí katedry doc. RNDr. R. Kubínek, CSc. ¹
Published in the journal: Česká stomatologie / Praktické zubní lékařství, ročník , 2004, 5, s. 180-185
Category:

Summary

Microscopy of atomic forces – AFM (Atomic Force Microscopy) belongs to techniquesof microscopy scanning by a probe, which are used for imaging structure of surfaces. It isbased of mapping the distribution of atomic forces on the surface of the sample underinvestigation.AFMprovides a true to topographic three-dimensional picture of the surface withup to atomic discrimination. In addition to physics and chemistry of the surfaces the methodis also applicable in biological disciplines. A special adjustment of the AFM scanner makes itpossible to follow biological samples in liquid media. It makes it possible to exclude variousartifacts caused by dehydration.The dention of human teeth is known to be excessively sensitive to dehydration and exsiccation,which is used the standard preparation of samples for the examination in SEM (ScanningElectron Microscopy).The paper describes our experience in the examination of the dentin surface in extracted thirdmolars by means of AFM under wet conditions.

Key words:
Atomic Force Microscopy – dentin – smear layer

Plné znenie tohto článku nie je v digitalizovanej podobe.

V prípade záujmu kontaktujte NTO ČLS JEP, ktoré vám môže poskytnúť sken časopisu.